透射電鏡實驗透射電子顯微鏡

簡要描述：

透射電鏡實驗（Transmission Electron Microscope,簡稱TEM）,可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0.2nm。

更新時間：2023-10-30

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產品介紹

實驗原理透射電鏡實驗是以電子束透過樣品經過聚焦與放大后所產生的物像，投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，制備超薄切片(通常為50～100 nm)。要在機體死亡后的數分鐘內取材，組織塊要小(1mm3以內)，常用戊二醛和鋨酸雙重固定，包埋介質包埋,用超薄切片機切成薄片，再經醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。

透射電鏡實驗實驗流程1.取材2.固定3.脫水4.包埋5.固化6.超薄切片機切片(50-60 nm)7.3%醋酸鈾-枸櫞酸鉛雙染色8.透射電鏡觀察，拍片

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